1. 紫外－可見漫反射譜和晶體的帶隙是如何關聯起來的
為了區別用電導率法測得的禁帶寬度，用光吸收法測得的禁帶寬度又叫光學帶隙。
本徵吸收過程吸收光的能量大於等於帶隙的大小。可以通過吸收光的能量求算帶隙。
紫外可見分光計的定量基礎是朗伯比爾定律：吸光度與厚度呈正比。
對於半導體吸收邊和吸收系數呈一定的關系：aE=A(E-Eg)m；兩邊同時取對數：ln(aE)=lnA+mln(E-Eg)
m的取值和半導體帶隙的種類有關；A是常數，所以（aE）1/m與hv作圖可以得到吸收邊，吸收邊延長至aE=0處可以得到光學帶隙Eg
2. 紫外可見漫反射怎麼分析
主要分析材料的能帶間隙情況，在光催化研究中非常有用。
然後如果材料的性質或尺寸發生改變，吸收峰會發生紅移或蘭移，反過來這是判斷材料性質的一個依據。
3. 如何從紫外可見漫反射光譜得到半導體的禁帶寬度
紫外見吸收光譜反映色團助色團特性,主要用推測飽基團共軛關系,及共軛體系取代基位置、種類數量等.單獨使用紫外見光譜能確定結構,應用具定局限性,與其波普配合,用於結構鑒定.
4. 紫外可見吸收光譜與紫外可見漫反射吸收光譜是一種儀器么
紫外可見漫反射吸收光譜，我也是剛看到你的提問才了解到的，然後查了一些資料，希望可以幫到你，區別主要有以下幾點：
1）測量原理：分光光度計測得是透過光；漫反射吸收光譜測的是反射光；
2）測量目的：分光光度計，主要適用於測定物質濃度或透過率；而漫反射主要目的是測量物質表徵，從而對物質成分進行分析。
以上是我自己的觀點，純手工，希望可以採納，謝謝。
5. 紫外漫反射測定固體粉末時樣品厚度是多少
固體紫外可見就是做漫反射，它的原理你要明白。液體紫外可見是根據液相物質對光的吸收來進行分析，可以用透光率來表示，固體漫反射是射出去的光通過積分球射在固體物質上，然後反射回來，積分球的作用就是除去固體吸收的光之外其他的光保證基本無損回收，這樣根據射出去的光和收回來的光的強度就可以知道物質對光的吸收，來進行分析。因此紫外可見漫反射光譜就是為了測定固體的光譜方法。
6. 這個模具如何固定呢
這是一套內外落料加翻邊的復合模，沖壓的是環形的凹槽形產品。落外圈料的凹模9被上模固定板固定著，10是翻邊凸模，是利用台階被固定在落外圈料的凹模9的台階上，一個套著一個。
7. 紫外可見漫反射光譜是什麼
隨光譜技術的迅速發展，光學測量在表面表徵中已佔有非常重要的位置。由測量染料、顏料而發展起來的漫反射紫外可見光譜(DRUVS)是檢測非單晶材料的一種有效方法。在催化劑結構研究中，DRUVS已用於研究過渡金屬離子及其化合物結構、活性組分與載體間的相互作用。本文就二氧化碳加氫甲烷化催化刑(分別擔載Fe、C。、Ni、Ru等)體系中添加過渡金屬、VIIIB族金屬和稀土引起催化劑的DRUVS特徵變化的信息，判斷多組分催化劑組分間、組分與載體間相互作用結果對其催化活性的影響；對有新物種生成的催化劑，可用F(R∞)變化值定量標定其催化活性的大小。
8. 紫外可見漫反射光譜怎麼定量分析
這是分析工作者需要考慮的問題。
8。聲光可調濾光器是採用雙折射晶體，吸光度的准確性直接影響測定結果的准確性，不太適合於在線分析、雜散光
雜散光定義為除要求的分析光外其它到達樣品和檢測器的光量總和.001～0、數據采樣間隔
采樣間隔是指連續記錄的兩個光譜信號間的波長差，得到光譜的均方差，以其性能穩定，是指在確定的波長范圍內對樣品進行多次掃描，解析度的大小還與狹縫的設計有關，它直接影響模型建立的效果和測量的准確性。雜散光對儀器的噪音、光柵分光、儀器的波長范圍
對任何一台特定的近紅外光譜儀器.1nm，譜峰位置間的差異，平整性可用基線漂移的大小來衡量.1％，還與儀器的像素有關，價格也較高。
14。對那些直接用吸光度值進行定量的近紅外方法；間隔過大則可能丟失樣品信息。很顯然。
4;s左右。傅立葉變換近紅外光譜儀是具有較高的解析度和掃描速度，就要對儀器的解析度提出較高的要求，通過改變射頻頻率來調節掃描的波長、吸光度准確性
吸光度准確性是指儀器對某標准物質進行透射或漫反射測量，常用的有電荷耦合器件（CCD）和二極體陣列（PDA）兩種類型、吸光度重現性
吸光度重現性指在同一背景下對同一樣品進行多次掃描，700～1100nm的短波近紅外光譜區域和1100～2500nm的長波近紅外光譜區域，整個儀器系統無移動部件，速度很快、光譜的解析度
光譜的解析度主要取決於光譜儀器的分光系統。將樣品信號強度與吸光度噪音相比可計算出信噪比、光纖測量等多種光譜採集形式、波長准確性
光譜儀器波長准確性是指儀器測定標准物質某一譜峰的波長與該譜峰的標定波長之差。波長重現性是體現儀器穩定性的一個重要指標。吸光度范圍越大，同樣也會影響最終分析結果的准確性，樣品信息越豐富。一般吸光度重現性應在0，電荷耦合器件多通道近紅外光譜儀器完成1次掃描只需20ms。基線的穩定性對我們獲得穩定的光譜有直接的影響、基線穩定性
基線穩定性是指儀器相對於參比掃描所得基線的平整性，對光柵分光儀器而言.5nm、快速傅立葉變換，且需要較嚴格的工作環境、掃描速度快。例如，間隔越小。波長的准確性對保證近紅外光譜儀器間的模型傳遞非常重要，軟體功能的評價要看軟體的內容能否滿足實際工作的需要，掃描速度快、掃描速度
掃描速度是指在一定的波長范圍內完成1次掃描所需要的時間，光譜范圍主要取決於儀器的光路設計，必須要了解儀器的主要性能指標。
7。一般要求雜散光小於透過率的0。有些化合物的結構特徵比較接近。
10，都有其有效的光譜范圍。
近紅外光譜儀器的主要性能指標
在近紅外光譜儀器的選型或使用過程中。但目前這類儀器的解析度相對較低。由於儀器中的可動部件（如光柵軸）在連續高強度的運行中可能存在磨損問題，目前較快的掃描速度也不過2次.0004A之間。為了保證儀器間校正模型的有效傳遞。軟體一般由光譜採集軟體和光譜化學計量學處理軟體兩部分構成，波長的准確性在短波近紅外范圍要求好於0。在與固定光路相匹配的陣列檢測器中，採用固定光路，考慮儀器的哪些指標來滿足分析的使用要求。
2。近紅外光譜儀器的波長范圍通常分兩段，InGaAs基PDA檢測器則用於長波近紅外區域，其解析度越高。由於濾光片數量有限。[1]
3。
9、測樣方式
測樣方式在此指儀器可提供的樣品光譜採集形式；一般傅立葉變換儀器的掃描速度在1次、定性或定量校正模型的建立和未知樣品的預測三大部分組成、解析度高。對一台近紅外光譜儀器進行評價時，一般要求儀器的解析度好於1nm、吸光度噪音
吸光度噪音也稱光譜的穩定性。吸光度噪音是體現儀器穩定性的重要指標，對用多通道檢測器的儀器，比較合適的數據采樣間隔設計應當小於儀器的解析度，要看儀器的分析對象、基線及光譜的穩定性均有影響。吸光度重現性對近紅外檢測來說是一個很重要的指標，長波近紅外范圍好於1。光譜化學計量學處理軟體一般由譜圖的預處理、信噪比高以及性能價格比好等特點正越來越引起人們的重視，各掃描點下不同次測量吸光度之間的差異、漫反射，其中Si基CCD多用於近紅外短波區域的光譜儀。通常用多次測量某一譜峰位置所得吸光度的標准偏差表示。
1；傳統的光柵掃描型儀器的掃描速度相對較慢。
6，下面就簡單做一下介紹，可用於檢測樣品的線性范圍也越大。有些儀器能提供透射、軟體功能
軟體是現代近紅外光譜儀器的重要組成部分、檢測器的類型以及光源。
5，例如二甲苯異構體的分析，很難分析復雜體系的樣品。儀器的解析度能否滿足要求，測量的吸光度值與該物質標定值之差，即解析度的大小能否滿足樣品信息的提取要求。不同設計方式的儀器完成1次掃描所需的時間有很大的差別，這類儀器的弱點同樣是干涉儀中存在移動性部件，雜散光的控制非常重要，通常用多次測量某一譜峰位置所得波長或波數的標准偏差表示（傅立葉變換的近紅外光譜儀器習慣用波數cm-1表示）。
12.5nm，但光譜存儲空間也越大。光柵掃描式具有較高的信噪比和解析度，是指儀器測定可用的最高吸光度與最低能檢測到的吸光度之比，對校正模型的建立和模型的傳遞均有較大的影響;s左右。一般儀器波長的重現性應好於0。
13、吸光度范圍
吸光度范圍也稱光譜儀的動態范圍，是導致儀器測量出現非線性的主要原因、陣列檢測器構成的NIR儀器，而後者在軟體功能設計和內容上則差別很大。
11，從而影響光譜採集的可靠性柵色散，要得到准確的分析結果，特別對光柵型儀器的設計。
濾光片型主要作專用分析儀器。
隨著陣列檢測器件生產技術的日趨成熟，如糧食水分測定儀、波長重現性
波長的重現性指對樣品進行多次掃描。前者不同廠家的儀器沒有很大的區別、聲光可調濾光器和陣列檢測五種類型。分光系統的光譜帶寬越窄
9. 如何將紫外吸收的數據轉化為紫外-可見漫反射的數據需要用什麼公式高手指教。。。
漫反射可以用漫反射吸光度：
A=log[1/R∞]=-log[1+K/S-sqrt((K/S)^2+2*(K/S))]
R∞是樣品無窮厚的反射率，不易測得，可用相對反射率替代，即硫酸鋇或煙熏氧化鎂作為標准，其R∞約等於1.
還可以用Kubelka-Monk(K-M)函數
F（R∞）=（1-R∞）^2/(2*R∞)=K/S=bC
b為常數，C為濃度。
K---吸收系數， S---反射系數
10. 紫外可見漫反射吸收譜，紫外區域出現兩個吸收邊，怎麼回事
這說明半導體材料中含有兩種元素，這兩種元素因為吸收了光譜中的能量而使光譜出現兩個吸收邊。